2830 ZT 预安装手册
Número de versión: 4
2830 ZT
El analizador de láminas 2830 ZT de fluorescencia de rayos X con dispersión de longitud de onda (WDXRF, por sus siglas en inglés) ofrece la capacidad más reciente para medir el grosor y la composición de películas. Diseñado específicamente para la industria de semiconductores y de almacenamiento de datos, el analizador de láminas 2830 ZT permite determinar la composición, el grosor, los niveles de dopaje y la uniformidad de la superficie de las capas para una amplia gama de láminas de hasta 300 mm.
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Manuales de usuario
2830 ZT Pre-installation manual
Número de versión: 4
2830 ZT User Guide
Número de versión: 2
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Malvern Panalytical Future Days: Focus On Semiconductor
- Productos:
- Crystal orientation range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), X'Pert3 range
- Tecnología:
- X-ray Fluorescence (XRF), Dispersión de luz dinámica, Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), X-ray Diffraction (XRD)
- Industria:
- Semiconductores/Electrónica
Elemental Analysis Masterclass 3 - The Basics of Sample Preparation for XRF
- Productos:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, Epsilon range, Rango de equipos CNA, Zetium
- Tecnología:
- X-ray Fluorescence (XRF), Borate fusion
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