Características
Reducción de la necesidad de materiales de referencia en capas
Una ventaja sobresaliente del paquete Stratos es que se obtienen excelentes resultados con instrumentos calibrados utilizando muestras patrón o de referencia de XRF a granel convencionales, cuya composición y estructura de capa difieren de las de los desconocidos. Esto resuelve el problema común de obtener costosos estándares certificados de películas delgadas que, si están disponibles, coincidan con las muestras de producción que se encuentran en el análisis de obleas de semiconductores y metales chapados. Si la opción Omnian también está disponible, los estándares y la calibración de Omnian se pueden utilizar directamente para Stratos.
El Virtual Analyst: desarrollo de métodos simplificado
El módulo de software de Stratos incluye el Virtual Analyst, su consultor para el desarrollo de métodos avanzados. Basándose en una definición de la estructura de su muestra, el Virtual Analyst simula la respuesta fluorescente de la muestra y ofrece la configuración óptima para el análisis, eliminando así los experimentos de prueba y error que requieren mucho tiempo y que normalmente se requieren para configurar estas aplicaciones complicadas.
Modelo de fluorescencia de algoritmos avanzados para pilas complicadas
Stratos utiliza parámetros fundamentales con el fin de calcular tanto las intensidades teóricas de rayos X para cada componente como las intensidades dispersas de Compton de la muestra. Luego, se correlacionan con intensidades medidas de los estándares de referencia, para obtener los factores instrumentales esenciales que forman la base de los cálculos. Para caracterizar muestras desconocidas, se introducen composiciones estimadas para una o más capas presentes. Se emplea un proceso repetido de refinamiento hasta que se logra una coincidencia estrecha con los valores medidos.
Especificaciones
Stratos permite determinar con precisión el espesor y la composición para las industrias de revestimiento y embalaje. Entre las ventajas clave se incluyen la capacidad multicapa maximizada, los costos de calibración minimizados, la flexibilidad total y la facilidad de uso gracias a la configuración intuitiva de recetas con la ayuda de Virtual Analyst y el análisis de botón pulsador con informes automáticos. El análisis se puede ejecutar sin la intervención del operador y los datos se pueden transmitir a un LIMS o, mediante el uso de UAI, a un sistema host de fábrica. Los resultados se presentan como porcentajes de elementos o espesores de masa.