Anwendungen in Forschung und Produktion
Das Wissen um die Textur eines Materials ist entscheidend. Die Textur ist beispielsweise bei der Produktion von Metallen wie Stahl und Aluminium ein wichtiger Parameter zur Kontrolle von Eigenschaften wie der mechanischen Festigkeit (z. B. von Werkzeugeinsätzen) und der Formbarkeit.
In der Mineralogie und der Geologie wird der Deformationsverlauf durch die Bestimmung der Textur von Gesteinen untersucht. Eine Analyse der Ausrichtungsverteilung kann dazu beitragen, die Bildung von Artefakten zu verstehen.
Durch Steuerung der Wachstumsbedingungen von Dünnschichten können die gewünschten Eigenschaften optimiert werden, z. B. bei der Herstellung von Materialien für Festplatten oder supraleitende Kabel.
Ein Reflex in einem Diffraktogramm steht für die Intensität einer bestimmten (hkl-)Netzebene in einer bestimmten Ausrichtung.
Durch Neigen und Drehen der Probe auf einem Diffraktometer kann die Intensitätsverteilung einer Reflexion über den Ausrichtungsbereich – eine Polfigur – hinweg aufgezeichnet werden.
Wenn mehrere Polfiguren für unabhängige Kristallorientierungen erstellt wurden, kann die Orientierungsverteilungsfunktion (Orientation Distribution Function, ODF) der Kristallite berechnet werden.
Die Vielzwecklösung für Ihre analytischen Anforderungen
Malvern Panalytical bietet eine Reihe von Lösungen für Röntgentexturmessungen.
Das Empyrean, mit einer Euler-Wiege ausgestattet sind die idealen Röntgendiffraktometriesysteme für Materialforscher, die Polfiguren von Proben mit verschiedenen Formen und Größen messen möchten. Eine nachfolgende Analyse der Messungen zur Bewertung, Visualisierung und Berechnung der Orientierungsverteilungsfunktion kann mithilfe des Softwarepakets Texture durchgeführt werden.
EmpyreanDas intelligente Röntgendiffraktometer |
X'Pert³ MRDVielseitiges Röntgendiffraktometer für Forschung und Entwicklung |
X'Pert³ MRD XLVielseitiges Röntgendiffraktometer für Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle |
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| Typ der Messung | |||
| Texturanalyse | |||
| Technologie | |||
| Röntgendiffraktometrie (XRD) | |||
