XRD2DScan

Funktionen

Analyse von 2D-Beugungs- und Streuungsdaten

2D-Beugungs- und Streuungsdaten enthalten eine große Menge an Informationen. XRD2DScan bietet eine umfassende und benutzerfreundliche Toolbox zum Extrahieren und Analysieren dieser Informationen.

Neben dem Nachweis der kristallinen (Mineralien) und amorphen (Polymere) Phasen können Sie deren Mikrostruktureigenschaften (Korngröße, Vorzugsorientierung, Kristallinität, Ordnungsgrad usw.) untersuchen, Polfiguren für texturierte Proben berechnen und die Probeninhomogenität analysieren, indem Sie Peakintensität, 2Theta-Position und Peakbreite anhand einer Reihe von 2D-Mustern abbilden. Die Abbildungsfunktion ist zudem ein sehr nützliches Tool für die bequeme Darstellung und Überprüfung eines Datensatzes mit Mikrotiterplatte.

2D-Datenbehandlung und -korrekturen

Neben den 2D-Datenanalysetools bietet XRD2DScan verschiedene nützliche Optionen für die Datenbehandlung und -korrektur, einschließlich Flat-Field-Korrektur, Untergrundkorrektur, Maskierung eines direkten Strahls oder starker Reflexionen (z. B. von einem Substrat). Sie können auch ein 2D-Bild drehen und zuschneiden, und die Qualität eines 2D-Bildes durch Anwendung von Datengruppierung, Glättung usw. verbessern. Sie können mehrere Dateien zusammenführen, um das Signal-Rausch-Verhältnis zu verbessern oder um eine zusammenfassende Darstellung eines Satzes mehrerer Dateien zu erhalten. Das resultierende 2D-Bild kann als XRDML-, ASC-, PSF- oder BMP-Datei exportiert werden.

Generierung von 1D-Scans aus 2D-Daten

XRD2DScan kann verschiedene 2D-Datentypen visualisieren (2D XRD, Polfigur, Karten, einschließlich Reciprocal Space Map usw.) und verschiedene Dateiformate lesen (XRDML, PSF, ASC, TIF usw.). Sie können auch mit 2D-Dateien arbeiten, die auf Diffraktometern von Drittanbietern gemessen wurden. Mit XRD2DScan können Sie außerdem verschiedene Arten von 1D-Scans extrahieren: 2Theta-Scans (äquatorial), Gamma-Scans (axial), Linien-Scans (in jeder Richtung), Psi-Scan (Polfigur-Intensität als Funktion des Probenneigungswinkels bei einem bestimmten azimutalen Drehwinkel), Phi-Scan (Polfigur-Intensität als Funktion des azimutalen Drehwinkels bei einem bestimmten Probenneigungswinkel). Für einen Satz von 2D-Dateien ist es auch möglich, einen Z-Scan (Integralsektorintensität als Funktion einer Dateinummer) darzustellen.

1D-Scans können aus dem gesamten 2D-Bild oder aus einem Teil des Bildes (Sektor) extrahiert werden. XRD2DScan unterstützt die Definition von (recht)eckigen 2D-Sektoren. Es ist dann möglich, 2theta-Scans zu exportieren, die von den Intensitäten abgeleitet wurden, die im ausgewählten Bereich aufgezeichnet wurden. Dies ist äußerst nützlich für Proben mit starker Textur oder großer Korngröße.

Die Toolbox für die 1D-Scanbehandlung beinhaltet Untergrundkorrektur, Peaksuche und -anpassung. Zur weiteren Analyse mit anderen Programmen (z. B. HighScore, HighScore Plus und EasySAXS) können die 1D-Scans als XRDML-, ASC-, DAT- oder 2Dint-Dateien exportiert werden.

Weitere nützliche Tools

XRD2DScan bietet ebenfalls mehrere praktische Tools wie die Kalibrierung des Probenerkennungsabstands, mehrere Optionen zur Bestimmung des Mustermittelpunkts, korrekte Integration der gemessenen 2D-Daten mithilfe des Strichfokus einer Röntgenröhre, die Option zur Angabe der erforderlichen Geräteeinstellungen, die Option zur Simulation der Polfigurabdeckung zur Vereinfachung des Textur-Experimentaufbaus.

Spezifikation

Aktuelle Version	8,0