DDCOM
Ultrarrápido, orientação de cristal de medição de superfície inferior em um pacote compacto
- Medição
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Crystal structure determination
- Tecnologia
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X-ray Diffraction (XRD)
Orientação rápida e precisa de wafers, massa fundida e qualquer outra amostra cristalina única
Nossas soluções de orientação de cristal são projetadas com as aplicações de massa fundida, lingote, disco e wafer em mente. Nossos produtos oferecem orientação de cristal simples e ultrarrápida em diversos ambientes.
Desde a análise on-line totalmente automatizada a verificações rápidas de qualidade, nós temos tudo o que você precisa.
