Software Epsilon
Pacote de software analítico EDXRF para sistemas Epsilon. A análise diária de XRF pode ser facilmente realizada por pessoas sem experiência após uma breve orientação.
Visão geral
- Controle de processo em linha não destrutivo. Nenhuma amostragem é necessária
- Variedade de modos de escaneamento para acomodar processos de revestimento de patches contínuos e de várias faixas
- Fácil de integrar em processos de produção com protocolos de comunicação padrão
- Capaz de medir todos os elementos valiosos de interesse, incluindo platina e cério
- Capaz de medir camadas finas com excelente precisão
- Acomoda uma variedade de larguras de rolo
- Braço robótico patenteado exclusivo que fornece controle de distância ideal ao pairar o cabeçote de medição sobre a linha de produção em todas as direções
Enfrentando os desafios da produção de células de combustível
Com os catalisadores de platina responsáveis por mais de 20% dos seus custos totais de células de combustível, é essencial otimizar o revestimento do catalisador através de dispersão uniforme e camadas consistentes. E o monitoramento rápido e preciso do processo é a solução ideal! O Epsilon Xline facilita o controle operacional eficiente, ajudando você a:
- Minimizar sua produção fora de especificação
- Evitar que a platina valiosa seja desperdiçada
- Produzir produtos finais competitivos em termos de custo
Características
- Automação em linha completa . Aproveite a produção contínua de R2R graças aos recursos de integração perfeita do Epsilon Xline, adequados para uma variedade de aplicações de filme fino e revestimento.
- Simples e seguro . O Epsilon Xline é totalmente seguro contra raios X e fácil de usar, ao contrário dos instrumentos portáteis ou antigos, e fornece dados analíticos altamente precisos.
- Uma vida inteira de experiência . Com base nos mais de 70 anos de experiência da Malvern Panalytical em análise elementar , o Epsilon Xline foi desenvolvido em colaboração com os nossos parceiros do setor para atender às suas necessidades atuais e, ao mesmo tempo, olhar juntos para o futuro do setor.
- Rendimento maximizado . Obtenha uma produção competitiva em termos de custo com monitoramento em tempo real e sem interrupções, oferecendo as percepções diretas e o controle de que você precisa para obter o máximo de suas operações.
- Excelente eficiência dos materiais . Elimine inconsistências, evite o desperdício de materiais preciosos e garanta um produto de alta qualidade com nossa solução padrão do setor.
- Precisão comprovada e patenteada . Desenvolvido e testado com os clientes, o Epsilon Xline apresenta uma tecnologia patenteada de correção de altura que garante uma análise estável para resultados precisos.
Tecnologia comprovada
Análise elementar dentro de seu processo
A fluorescência de raios X (XRF) é uma tecnologia de análise elementar não destrutiva que permite o monitoramento em linha durante os processos de revestimento das membranas catalíticas, sem a necessidade de colher amostras e sem alterações químicas ou físicas.
A análise em linha em tempo real resultante permite a rápida otimização de muitos parâmetros de processo e propriedades do produto.
Medições altamente repetíveis e precisas com baixa manutenção
A tecnologia comprovada e robusta usada no Epsilon Xline e em toda a nossa série de instrumentos Epsilon é alimentada pelos mais recentes avanços em tecnologia de excitação e detecção. Com um trajeto óptico bem concebido, uma vasta gama de recursos de excitação para elementos leves e pesados e um sistema de detector SDD de alta resolução rápido contribuem para o poder do Epsilon Xline. Essas inovações levam a resultados altamente repetíveis e precisos com baixa manutenção.
Especificação
| Trocador de amostras | |
|---|---|
| Tipo de amostra | Linha de revestimento |
| Tipos de revestimento | Contínuo, faixas, remendos |
| Velocidade da linha continua a revestir | Máximo 30 m/min |
| Velocidade da linha do revestimento do remendo | Máximo 11 m/min |
| Tubo de raios X | |
| Tipo | Metal-cerâmica, janela lateral |
| Material do ânodo | Ag |
| Definição da ampola | Controlado por software, tensões aplicáveis de 4 a 50 kV, máx. 3 mA, potência máxima do tubo 15 W |
| Filtros da ampola | Seis, selecionáveis por software (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; Ag 100 µm |
| Espessura da janela | 50 µm (Be) |
| Detector | |
| Tipo | Detector de desvio de Si de alta resolução SDD10 |
| Janela | 8 µm (Be) |
| Resolução | Menos de 145 eV a 5,9 keV/1000 cps
Normalmente 135 eV a 5,9 keV/1000 cps |
| Normas de segurança | |
| Radiação | Menos de 1 µSv/h a 10 cm da superfície exterior |
Conectividade integrada
Integre o Epsilon Xline em suas linhas de produção sem problemas com a conectividade OPC integrada. O pacote de software dedicado incluído simplifica a configuração do Epsilon Xline para diferentes materiais e modos de medição. Ao inserir comandos diretamente no instrumento, ou por meio de um console remoto, a interface fácil de usar exibe uma visão geral dos dados completos de rastreamento.
Software Stratos
Determinação da composição e espessura de revestimentos e multicamadas, permitindo a determinação simultânea da composição química e espessura de materiais em camadas.
Suporte
Estamos aqui para ajudar.
Na Malvern Panalytical, você não investe apenas em um instrumento, você investe em anos de atendimento ao cliente de alta qualidade e em uma vida inteira de suporte ao equipamento. Nossos técnicos de serviço e nossa rede global de suporte ao cliente estão sempre à disposição com uma série de orientações e suporte especializados. Por isso, não hesite em entrar em contato sempre que precisar de nós!
