Wafer XRD 300

Sua solução integrável da orientação do wafer

A automação completa da fábrica está um passo mais perto com Wafer XRD 300, um sistema de metrologia de wafer ultrarrápido, de alto rendimento e máxima precisão, pronto para integração em sua linha de processo.

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Visão geral

O Wafer XRD 300 é um sistema de difração de raios X de alta velocidade, capaz de analisar wafers de 300 mm e fornecer dados-chave, como orientação de cristal, características geométricas como diâmetro ou posição de entalhe, e muito mais. Ele é projetado para caber em um front-end de manuseio de wafer da etapa de processamento de sua preferência.

Recursos e benefícios

Ultrarrápido e preciso: Método de projeção Azimutal

O método de projeção azimutal requer apenas uma rotação de medição para reunir todos os dados necessários para determinar totalmente a orientação, que fornece os resultados em 10 segundos, sem comprometer a precisão.

A amostra é girada 360o, com a fonte de raios X e o detector posicionados para atingir um determinado número de reflexões por volta. Essas reflexões permitem que a orientação da rede cristalina seja medida em relação ao eixo de rotação com alta precisão de até 0.003o.

Manuseio totalmente automatizado

Com medições concluídas em apenas 10 segundos por amostra, o Wafer XRD 300 permite que você verifique cada wafer que passa por seu processo, tornando-o um elemento poderoso e eficiente em seu processo de QC.

Os custos operacionais são baixos para o Wafer XRD 300, graças ao seu baixo consumo de energia e ao tubo de raios X refrigerado a ar – não é necessário resfriar a água.

Manuseio totalmente automatizado

Conectividade fácil

O instrumento pode ser facilmente integrado em processos existentes em ambientes de produção usando suas várias interfaces MES, SECS/GEM e similares.

Conectividade fácil

Insights mais profundos

Altamente preciso na medição de sua orientação de cristal de wafer Si.

O Wafer XRD 300 faz você entender seus materiais como nunca antes, sendo capaz de medir:

  • Orientação de cristal
  • Posição do encaixe, profundidade e ângulo de abertura
  • Diâmetro

Principais aplicações

Produção e processamento
Os avanços na automação estão mudando nossas indústrias, e o Wafer XRD 300 está na liderança como uma solução prática e poderosa para gerenciar medições de orientação em velocidades sem precedentes.
Controle de qualidade
O Wafer XRD 300 oferece eficiência e versatilidade incomparáveis para o controle de qualidade da produção, proporcionando resultados altamente precisos em menos de 10 segundos. 
É adequado para ambientes de produção de 300 mm, em que a integração na automação personalizada é fundamental.

Especificação

Rendimento Mais de 10.000 wafers por mês
Geometria do wafer  Sob demanda
Precisão de inclinação 0,003
Eixo XRD em relação ao encaixe/posição plana 0,03°

Suporte

Serviços de suporte 

  • Suporte remoto e por telefone
  • Manutenção preventiva e verificações
  • Contrato de atendimento flexível ao cliente
  • Certificados de desempenho
  • Upgrades de hardware e software
  • Suporte local e global

Conhecimento

  • Soluções prontas para metrologia de semicondutores elementares e estruturais
  • Automação e consultoria
  • Treinamento e formação
A automação chegou. Junte-se à revolução do Wafer XRD.

A automação chegou. Junte-se à revolução do Wafer XRD.

A melhor solução para a classificação automatizada de wafer, orientação de cristal e muito mais, com o poder de intensificar sua produtividade e deixar seus processos prontos para o futuro.

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