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Wafer XRD 300

Sua solução integrável da orientação do wafer

O poder da automação da sua fábrica encontra a nossa tecnologia de difração de raios X de última geração. O Wafer XRD 300 é um módulo de metrologia ultrarrápido e de alta precisão para orientação de cristal e controle de geometria de wafer.

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Visão geral

Conheça o Wafer XRD 300: seu módulo de difração de raios X de alta velocidade para produção de wafers de 300 mm fornecendo dados essenciais em uma variedade de parâmetros fundamentais, como orientação de cristal e caraterísticas geométricas, como encaixes, planos e muito mais, projetado para caber perfeitamente em sua linha de processo.

Recursos e benefícios

Precisão ultrarrápida com nossa tecnologia de leitura patenteada

O método usado requer apenas uma leitura rotacional para reunir todos os dados necessários para determinar totalmente a orientação de cristal, o que proporciona alta precisão a um tempo de medição muito baixo, no intervalo de alguns segundos.

Manuseio e classificação totalmente automatizados

O Wafer XRD 300 foi projetado para maximizar seu rendimento e produtividade. A integração total na sua automação de manuseio e classificação faz com que seja uma adição poderosa e eficiente ao seu processo. 

Manuseio e classificação totalmente automatizados

Conectividade fácil

A poderosa automação do Wafer XRD 300 se ajusta facilmente ao seu processo novo ou existente, pois é compatível com as interfaces MES e SECS/GEM. 

Conectividade fácil

Alta precisão, visão mais profunda

Entenda seus materiais como nunca antes com as principais medidas do Wafer XRD 300, incluindo:

  • Orientação de cristal
  • Posição do encaixe, profundidade e ângulo de abertura
  • Diâmetro
  • Posição e comprimento planos
  • Outros sensores disponíveis mediante solicitação

A inclinação típica do desvio padrão (exemplo: Si 100) para a leitura azimutal é < 0,003o.

Potente e versátil

À medida que a pesquisa de semicondutores evolui, nunca foi tão importante medir uma variedade de amostras. O Wafer XRD 300 torna a análise fácil e rápida para centenas de materiais, incluindo: 

  • Si
  • SiC
  • AlN
  • Al2O3 (safira)
  • GaAs
  • Quartzo
  • LiNbO3
  • BBO

Principais aplicações

Produção e processamento
Os avanços na automação estão mudando nossas indústrias, e o Wafer XRD 300 está na liderança como uma solução prática e poderosa para gerenciar medições de orientação em velocidades sem precedentes.
Controle de qualidade
O Wafer XRD 300 oferece eficiência e versatilidade incomparáveis para o controle de qualidade da produção, proporcionando resultados altamente precisos em menos de 10 segundos. 
É adequado para ambientes de produção de 300 mm, em que a integração na automação personalizada é fundamental.

Especificação

Rendimento Mais de 10.000 wafers por mês
Geometria do wafer  Sob demanda
Precisão de inclinação 0,003
Eixo XRD em relação ao encaixe/posição plana 0,03°

Suporte

Serviços de suporte 

  • Suporte remoto e por telefone
  • Manutenção preventiva e verificações
  • Contrato de atendimento flexível ao cliente
  • Certificados de desempenho
  • Upgrades de hardware e software
  • Suporte local e global

Conhecimento

  • Soluções prontas para metrologia de semicondutores elementares e estruturais
  • Automação e consultoria
  • Treinamento e formação
A automação chegou. Junte-se à revolução do Wafer XRD.

A automação chegou. Junte-se à revolução do Wafer XRD.

A melhor solução para a classificação automatizada de wafer, orientação de cristal e muito mais, com o poder de intensificar sua produtividade e deixar seus processos prontos para o futuro.

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