Suportes de amostra
Uma variedade de suportes de amostra estão disponíveis para o SDCOM, permitindo que você processe amostras menores, maiores ou irregulares facilmente.
Capaz de medir qualquer cristal único com um diâmetro entre 2 mm e 300 mm, o SDCOM usa o método de projeção azimutal para determinar precisamente a orientação completa da rede de cristais únicos em apenas uma rotação de medição — levando apenas alguns segundos.
Adequado para pesquisa, produção e controle de qualidade, o versátil e acessível SDCOM se encaixa facilmente em várias etapas de processo de wafer e lingote, enquanto tem custos operacionais mínimos, pois elimina a necessidade de arrefecimento de água.
Baixar catálogoA medição rápida e precisa da orientação de cristal nunca foi tão acessível: conheça o SDCOM, seu XRD compacto e fácil de usar. O método de projeção azimutal permite medições ultrarrápidas, com resultados retornados em menos de dez segundos.
Oferecendo o mais alto nível de precisão de até 0,01o, suportando uma ampla variedade de acessórios, o SDCOM é a solução ideal para muitas aplicações no processamento e pesquisa de wafer.
O método de projeção Azimutal requer apenas uma rotação de medição para reunir todos os dados necessários para determinar totalmente a orientação, entregando os resultados em 10 segundos, sem comprometer a precisão.
A amostra é girada 360o, com a fonte de raios X e o detector posicionados para atingir um determinado número de reflexões por volta. Essas reflexões permitem que a orientação da rede cristalina seja medida em relação ao eixo de rotação com uma alta precisão de até 0,01o.
Sua forma leve e compacta garante fácil integração do SDCOM em processos de pesquisa ou indústria. O software XRD Suite é poderoso e intuitivo, tornando-o prático e fácil de operar para uma variedade de usuários.
A flexibilidade é fundamental para o SDCOM, que é especialmente claro na variedade de materiais que pode medir. Ele é capaz de medir cristais com diâmetros entre 2 mm e 300 mm
Para maior flexibilidade, o SDCOM também aceita Theta-scan. Com isso, você pode cobrir uma gama ainda maior de materiais e off-cuts.
Há também uma variedade de suportes de amostra e dispositivos de transferência que podem expandir ainda mais as possibilidades das aplicações do seu SDCOM, garantindo a compatibilidade com o seu fluxo de trabalho. Também estão disponíveis estágios manuais e motorizados de mapeamento de wafer.
O tubo de raios X da SDCOM é resfriado a ar, eliminando a necessidade de um resfriador ou de um circuito arrefecedor de água. Graças à eficiência e ao pequeno impacto do SDCOM, seu consumo de energia é reduzido ao mínimo, além dos seus custos operacionais.
Fonte de raio X | Ampola de raios X refrigerada a ar de 30 W, ânodo de Cu |
Detectores | Tecnologia de contador de cintilação |
Suporte de amostra | Mesa giratória precisa, precisão de ajuste de 0,01 °, suportes de amostra personalizados e dispositivos de transferência |
Diâmetro da amostra | Até 2 mm ø, até 200 mm |
Temperatura ambiente | ≤ 30 °C |
Requisitos do PC | Windows 10 ou mais recente. Atualização do .NET Framework, 2 portas Ethernet |
Requisitos de energia | De 100 a 230 V, monofásica, 500 W |
Dimensões | 600 mm (C) x 600 mm (L) x 840 mm (A) |
Peso | cerca de 100 kg |
Certificação | Fabricado de acordo com as diretrizes ISO 9001, em conformidade com a CE |
Todos os parâmetros técnicos estão sujeitos a alterações com base em P&D |
Uma variedade de suportes de amostra estão disponíveis para o SDCOM, permitindo que você processe amostras menores, maiores ou irregulares facilmente.
Integre totalmente seu SDCOM ao seu processo adicionando acessórios de transferência dedicados, incluindo opções para a serra de fio, moagem e muito mais.
Meça suas amostras, sem cometer erros de alinhamento com a fixação de entalhes e rolhas planas.
Capaz de medir wafers de 300 mm, o padrão da indústria para fabricação de semicondutores de alto desempenho e alto rendimento.
Difração de raios X versátil, precisa e rápida em um formato compacto prático. Economia sem comprometer a qualidade.