DDCOM

Visão geral

Orientação de cristal ultrarrápida e precisa (até (1/100)^o na ponta dos seus dedos. O DDCOM adquire resultados confiáveis mais de 100 vezes mais rápido do que os métodos tradicionais, com economia de tempo adicional devido à geometria de medição de cima para baixo. Esse instrumento de elevada versatilidade utiliza uma ampola de raios X refrigerada a ar e um design portátil para garantir custos de funcionamento mais baixos e máxima praticidade, ideal para aplicações de controle de qualidade, marcação e pesquisa.

Recursos e benefícios

Precisão ultrarrápida

Nosso método de leitura proprietário requer apenas uma rotação de leitura para coletar todos os dados necessários para a determinação da orientação do cristal, fornecendo resultados precisos no intervalo de alguns segundos (rotação única).

A geometria do instrumento específica do material permite que a orientação da cela do cristal seja medida em relação ao eixo de rotação ultrarrápida com precisão aumentando com o número de rotações de leitura.

Formato compacto e fácil de usar

O design compacto do DDCOM permite que o sistema se encaixe em qualquer configuração. O software é poderoso e intuitivo, tornando-o prático e fácil de operar para uma variedade de usuários.

Controle preciso e eficiente

Mantenha o controle dos processos de corte, moagem e lapidação com alta precisão de até 1/100o. O DDCOM oferece orientação completa de cela de cristais únicos e é projetado para a configuração azimutal e marcação de orientação de cristal.

Os parâmetros de cristal pré-programados permitem a determinação de orientação desconhecida arbitrária de várias estruturas, além de auxiliar na refinação do fluxo de trabalho para uma maior eficiência. Vários acessórios de estágio permitem a metrologia em diferentes etapas do processo.

Versátil e econômico

O DDCOM está bem equipado para ambientes de pesquisa e produção em que uma variedade de tipos de amostra precisa ser analisada. Os custos operacionais são baixos para o DDCOM, graças ao seu baixo consumo de energia e à ampola de raios X refrigerada a ar. Não é necessário resfriamento a água.

O instrumento pode medir uma variedade de materiais diferentes com estruturas variáveis tornando-o uma adição versátil a qualquer laboratório. Alguns exemplos de materiais mensuráveis incluem:

Orientação cúbica e arbitrária desconhecida: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
Orientação cúbica e especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC₃C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl₂O₄, SrTiO₃, LaTiO₃
Tetragonal: MgF₂, TiO₂, SrLaAlO₄
Hexagonal e trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO₃, SiO₂ (quartzo), Al₂O₃ (safira), GaPO₄, La₃Ga₅SiO₁₄
Ortorrômbico: Mg₂SiO₄, NdGaO₃

Principais aplicações

Controle de orientação de cristal para corte, moagem e lapidação: Devido à sua pequeno impacto, capacidades de automação e alta velocidade de medição, o DDCOM XRD oferece uma maneira prática e fácil de medir a orientação do cristal, permitindo o controle preciso e eficiente dos processos de corte, moagem e lapidação.

Definição e marcação da orientação do cristal: O DDCOM é equipado para a configuração azimutal e a marcação da orientação do cristal. A marcação do wafer depende da precisão excelente e da monitoração rápida, e o DDCOM fornece a velocidade e a precisão que seu processo necessita. Leve e portátil, é facilmente integrado na sua configuração existente ou como parte de um novo processo.

Controle de qualidade: A velocidade de medição e o tempo de produção são cruciais para o controle de qualidade da produção, mas para medições de rotina, também é importante manter os custos operacionais baixos. O DDCOM não é apenas eficiente em capacidade de processamento e produtividade devido à geometria de medição de cima para baixo, mas também no uso de energia, mantendo seus custos mais baixos e seus processos funcionando de forma ideal, sem comprometer a qualidade.

Pesquisa de materiais: Capaz de medir uma versátil variedade de tipos de cristal com um pequeno impacto no laboratório, o DDCOM é ideal para fluxos de trabalho de pesquisa padrão. Os custos de funcionamento são reduzidos graças ao consumo de energia minimizado e a uma ampola de raios X refrigerada a ar, sem necessidade de resfriamento a água. O DDCOM também é acessível e fácil de operar para uma variedade de níveis de experiência, tornando-se uma solução prática para laboratórios de pesquisa.

Especificação

Especificação técnica
Fonte de raio X	Ampola de raios X refrigerada a ar de 30 W, ânodo de Cu
Detectores	Dois contadores de cintilação
Suporte de amostra	Mesa giratória precisa, precisão de ajuste de 0,01°, ferramentas para posicionamento e marcação de amostras definidas
Especificação física
Dimensões	600 mm × 600 mm × 850 mm
Peso	80 kg
Fonte de alimentação	100-230 V, 500 W, monofásica
Temperatura ambiente	≤ 30 °C
Opções de configuração
Dispositivo para mapeamento de wafers (diâmetro máximo 225 mm)
Dispositivo para carregamento automático a partir de cassetes
Exemplos de materiais mensuráveis
Orientação cúbica/arbitrária desconhecida: Si, Ge, GaAs, GaP, AlAs, AlP, InP, NaCl, AgCl, CaF₂
Orientação cúbica/especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC 3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl₂O₄, SrTiO₃, LaTiO₃
Tetragonal: MgF₂, TiO₂, SrLaAlO₄
Hexagonal/Trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO₃, SiO₂ (quartzo), Al₂O₃ (safira), GaPO₄, La₃Ga₅SiO₁₄
Ortorrômbico: Mg₂SiO₄, NdGaO₃
Materiais adicionais de acordo com as demandas dos clientes

Acessórios

Complemento opcional para explorar e mapear a orientação do cristal ou distorções de superfície.

Dispositivo para mapeamento de wafer

Uma ferramenta extra para permitir o carregamento automático de amostras a partir de um cassete, melhorando o tempo de produção e a eficiência do fluxo de trabalho.

Carregamento automático a partir do cassete

Suporte

Serviços de suporte

Suporte remoto e por telefone
Manutenção preventiva e verificações
Contrato de atendimento flexível ao cliente
Certificados de desempenho
Upgrades de hardware e software
Suporte local e global

Conhecimento

Soluções prontas para metrologia de semicondutores elementares e estruturais
Automação e consultoria
Treinamento e formação

Orientação de cristal automatizada ultrarrápida em um pacote compacto