Análise cristalográfica de dados de difração de raios X
Os gregos antigos acreditavam que o Krystallos (cristal) se tratava de luz congelada e que era tão rígido que nunca poderia ser derretido. Posteriormente, a cristalografia se tornou uma ciência que estuda a simetria externa para tentar explicar a parte interna dos cristais. William Henry Bragg e William Lawrence Bragg, pai e filho, foram os primeiros a usar a difração de raios X (XRD) para estudar a parte interna dos cristais, mostrando estruturas periódicas de átomos em um cristal.
Hoje em dia, a cristalografia de raios X é usada em muitos campos da química, mineralogia e física. Não apenas no estado chamado cristalino (posição ordenada de íons, átomos ou moléculas), mas também nos estados amorfo e líquido que não têm longa periodicidade.
Cristalografia é a ciência de base usada para determinação de novas estruturas, quantificação usando, por exemplo, o método Rietveld, dispersão total, análises de textura etc.
As etapas necessárias para a análise cristalográfica de dados de difração de pó estão todas inclusas no software HighScore Plus :
A análise cristalográfica precisa de dados de difração da mais alta qualidade. O Empyrean Alpha-1 da Malvern Panalytical, configurado com um monocromador Ge (tipo Johansson), oferece dados de geometria de reflexão Cu ou Co Kα1 Bragg-Brentano perfeitos para determinar a estrutura. Ao usar um monocromador híbrido PreFIX, uma geometria de transmissão de feixe paralelo α1 é criada no Empyrean para transmissão ou trabalho capilar.
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