Como camadas de metais puros ou ligas são usadas para melhorar certas características de um produto, é importante determinar com precisão a espessura do revestimento. O controle de qualidade dos revestimentos metálicos requer uma análise de metal não destrutiva e uma caracterização detalhada das propriedades físicas. A fluorescência de raios X (XRF), a análise do formato das partículas e a difração de raios X (XRD) são técnicas analíticas não destrutivas e sem contato que exigem pouca ou nenhuma preparação de amostras, o que as torna ideais para essa aplicação.
As aplicações típicas incluem:
Linha MorphologiImagens automatizadas para caracterização avançada de partículas |
EmpyreanO difratômetro inteligente |
Metals edition do ZetiumO novo elemento em metais |
Série EpsilonRapidez e precisão na análise elementar e em linha |
|
---|---|---|---|---|
Tecnologia | ||||
Análise de imagem | ||||
X-ray Diffraction (XRD) | ||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||
X-ray Fluorescence (XRF) |