DDCOM
Mesure ultra-rapide de l'orientation du cristal sur la surface inférieure dans un boîtier compact
- Mesure
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Crystal structure determination
- Technologie
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X-ray Diffraction (XRD)
Orientation rapide et précise des wafers, boules et autres échantillons monocristallins
Nos solutions Crystal Orientation sont conçues pour les applications de boules, de lingots, de palets et de wafers. Nos produits permettent une orientation simple et ultra-rapide des cristaux dans toute une série d'environnements.
De l'analyse en ligne entièrement automatisée aux contrôles qualité rapides, nous avons ce qu'il vous faut.
