Caractérisation avancée des particules par Spectroscopie Raman
En plus des caractéristiques physiques telles que la taille et la forme des particules, l'identité chimique des particules peut être importante pour un certain nombre d'applications telles que :
Malvern Panalytical a développé une instrumentation avancée pour l'identification chimique d'échantillons particulaires en combinant des informations de taille et de forme haute résolution provenant de systèmes d'analyse d'images automatisés avec la haute spécificité chimique de la Spectroscopie Raman.
Caractérisation rapide et automatisée des particules de composants spécifiques sur une plate-forme unique et intégrée
| Technologie | |
|---|---|
| Analyse d'images | |
| Spectroscopie proche infrarouge (NIR) | |
| Activation thermique/neutronique à pulsations rapides | |
| Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) |
Instruments de laboratoire pour l'analyse qualitative et quantitative des matériaux
| Technologie | |
|---|---|
| Analyse d'images | |
| Spectroscopie proche infrarouge (NIR) | |
| Activation thermique/neutronique à pulsations rapides | |
| Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) |
Analyseurs élémentaires en ligne pour un contrôle efficace de nombreux procédés industriels
| Technologie | |
|---|---|
| Analyse d'images | |
| Spectroscopie proche infrarouge (NIR) | |
| Activation thermique/neutronique à pulsations rapides | |
| Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) |
Solution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs
| Technologie | |
|---|---|
| Analyse d'images | |
| Spectroscopie proche infrarouge (NIR) | |
| Activation thermique/neutronique à pulsations rapides | |
| Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) |
Morphologi 4-IDCaractérisation rapide et automatisée des particules de composants spécifiques sur une plate-forme unique et intégrée |
Gamme ASD LabSpec ®Instruments de laboratoire pour l'analyse qualitative et quantitative des matériaux |
Gamme CNAAnalyseurs élémentaires en ligne pour un contrôle efficace de nombreux procédés industriels |
2830 ZTSolution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs |
|
|---|---|---|---|---|
| Technologie | ||||
| Analyse d'images | ||||
| Spectroscopie proche infrarouge (NIR) | ||||
| Activation thermique/neutronique à pulsations rapides | ||||
| Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) | ||||
