XRD2DScan

Fonctionnalités

Analyse des données de diffraction et de diffusion 2D

Les données de diffraction et de diffusion 2D contiennent un grand nombre d'informations. XRD2DScan propose une boîte à outils complète et facile à utiliser pour les extraire et les analyser.

Outre la détection des phases cristallines (minéraux) et amorphes (polymères), vous pouvez étudier leurs caractéristiques microstructurelles (taille du grain, orientation préférentielle, cristallinité, degré d'ordre, etc.), calculer les figures de pôles pour les échantillons texturés et analyser l'inhomogénéité d'un échantillon en cartographiant l'intensité du pic, la position 2Theta et la largeur du pic à l'aide d'un ensemble de figures 2D. La fonctionnalité de cartographie est également un outil très utile pour la représentation et l'examen pratiques d'un ensemble de données de plaque à puits.

Traitement et corrections des données 2D

Outre les outils d'analyse de données 2D, XRD2DScan offre plusieurs options utiles pour le traitement et la correction des données, notamment la correction de champ plat, la correction du bruit de fond et le masquage du faisceau direct ou des réflexions fortes (par exemple, d'un substrat). Vous pouvez également faire pivoter et recadrer une image 2D, améliorer la qualité d'une image 2D en effectuant un regroupement ou un lissage des données, etc. Vous pouvez fusionner plusieurs fichiers pour améliorer le rapport pic/bruit ou pour obtenir une représentation sommative d'un ensemble de fichiers multiples. L'image 2D obtenue peut être exportée au format XRDML, ASC, PSF ou BMP.

Génération d'acquisitions 1D à partir de données 2D

XRD2DScan peut visualiser différents types de données 2D (rayons X en 2D, figure de pôle, cartographies, y compris cartographies de réseau réciproques, etc.) et lire différents formats de fichiers (XRDML, PSF, ASC, TIF, etc.). Vous pouvez également travailler avec des fichiers 2D mesurés sur des diffractomètres tiers. XRD2DScan vous permet également d'extraire différents types d'acquisitions 1D : les acquisitions 2theta (équatoriales), les acquisitions gamma (axiales), les acquisitions en lignes (dans n'importe quelle direction), les acquisitions Psi (intensité de la figure de pôle en fonction de l'angle d'inclinaison de l'échantillon à un angle de rotation azimutale donné), les acquisitions Phi (intensité de la figure de pôle en fonction de l'angle de rotation azimutal à un angle d'inclinaison d'échantillon donné). Pour un ensemble de fichiers 2D, il est également possible de tracer une acquisition Z (une intensité de secteur intégrale en fonction d'un numéro de fichier).

Les acquisitions 1D peuvent être extraites de l'intégralité ou d'une partie (un secteur) de l'image 2D. XRD2DScan prend en charge la définition de secteurs 2D rectangulaires et angulaires. Il est alors possible d'exporter les acquisitions 2theta dérivées des intensités enregistrées dans le secteur sélectionné. Ceci est extrêmement utile pour les échantillons à texture forte ou de grande taille de grain.

La boîte à outils pour le traitement des acquisitions 1D comprend la correction du bruit de fond, la recherche de pics et l'ajustement de pics. Pour une analyse plus approfondie à l'aide d'autres programmes (par ex. HighScore, HighScore Plus et EasySAXS), les acquisitions 1D peuvent être exportées sous forme de fichiers XRDML, ASC, DAT ou 2Dint.

Autres outils utiles

XRD2DScan offre également plusieurs outils pratiques tels que l'étalonnage de la distance entre le détecteur et l'échantillon, plusieurs options pour déterminer le centre du motif, l'intégration correcte des données 2D mesurées à l'aide du foyer linéaire d'un tube à rayons X, la possibilité de spécifier les paramètres d'instrument requis et la possibilité de simuler la couverture de la figure de pôle afin de simplifier la conception de l'expérience de texture.

Spécifications

Version actuelle	8,0