Como las capas de metales puros o de las aleaciones se utilizan para mejorar ciertas características de un producto, es importante determinar con precisión el espesor del recubrimiento. El control de calidad de los recubrimientos metálicos requiere un análisis de metales no destructivo, así como una caracterización detallada de las propiedades físicas. La fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés “X-Ray Fluorescence”), el análisis de la forma de partícula y la difracción de rayos X (XRD, del inglés “X-Ray Diffraction”) son técnicas analíticas no destructivas sin contacto que requieren poca o ninguna preparación de la muestra, lo que las hace ideales para esta aplicación.
Entre las aplicaciones típicas están:
Rango de equipos MorphologiImágenes automatizadas para la caracterización avanzada de partículas |
EmpyreanEl difractómetro inteligente |
La edición Metals de ZetiumEl nuevo elemento en los metales |
Gama EpsilonAnálisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea |
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Tecnología | ||||
Análisis de imágenes | ||||
X-ray Diffraction (XRD) | ||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||
X-ray Fluorescence (XRF) |