Afin d'optimiser la valeur de vos méthodes analytiques pour vos opérations de laboratoire quotidiennes, il faut tout d'abord s'assurer que ces méthodes sont correctement et complètement configurées. Par la suite, le temps consacré à la maintenance régulière de la méthode devrait être aussi court que possible.
Pour cette raison, Malvern Panalytical propose des solutions d'analyse complètes, y compris une méthode intégrale de mise en œuvre. Nos spécialistes configurent et intègrent nos modules analytiques dans votre flux de travail et forment votre personnel de laboratoire sur la façon de les utiliser. La configuration de la validation de la méthode optimisée et des procédures de maintenance est également incluse.
Les solutions présentées ci-dessous peuvent être commandées comme partie intégrante d'un nouvel instrument ou déployées sur un système déjà installé. Elles vous permettent de tirer parti de tout le potentiel offert par nos solutions, et donc de maximiser la valeur de votre investissement.
Passer à :Solution clé en main d'analyse élémentaire
Face à des échantillons totalement inconnus ou lorsque les étalons de calibration ou les matériaux de référence sont difficiles à obtenir voir indisponibles, l'analyse XRF représente une solution intéressante. Omnian est un module d'analyse non standardisé, hautement avancé et facile à utiliser, qui couvre tous les éléments de F à U. Des résultats quantitatifs peuvent être obtenus pour de très nombreux types d'échantillons comme les poudres compactées, les échantillons sous forme de perles, les poudres non compactées et les liquides. Les applications importantes comprennent l'analyse élémentaire d'échantillons « occasionnels », le criblage et l'analyse de défaillance.
Le programme d'expertise Omnian
Ce programme d'expertise offre une solution d'analyse complète, prête à l'emploi et non standardisée pour les systèmes WD XRF et les systèmes de paillasse EDXRF de Malvern Panalytical. La configuration des paramètres de traitement pour différents types de matériaux, une validation complète et le flux de travail du contrôle de la dérive sont également inclus. Les spectromètres Zetium, Axios ou MagiX incluent la configuration d'analyse rapide permettant une quantification de toute la gamme élémentaire en moins de 2 minutes. La configuration d'Omnian peut être affinée pour certains types de matériaux, y compris des échantillons configurés TAG. Les mesures de pic pour une meilleure quantification des traces et des éléments mineurs peuvent être incluses sur demande.
Inclus :
En option
Conditions préalables
Contactez un spécialiste
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse de traces de haute précision à l'aide de la XRF
Des données d'éléments traces fiables sont nécessaires pour répondre aux besoins croissants d'un large éventail de secteurs de l'industrie comme l'exploration minière, les sciences relatives aux sols et aux terres agricoles ainsi que la recherche en géochimie. Le renforcement de la législation mondiale pour le contrôle de la pollution environnementale a pour conséquence un besoin de quantification fiable des faibles concentrations des éléments dans de nombreuses industries.
L'analyse des éléments traces constitue un défi. L'optimisation de l'instrumentation, la mise en place de programmes de mesure solides et un traitement approprié des données sont quelques-unes des questions que les analystes doivent traiter. La disponibilité et la sélection d'étalons de calibration appropriés représentent un autre poste de dépenses important, souvent négligé.
Le programme d'expertise Pro-Trace
Développée par des analystes hautement expérimentés, la solution Pro-Trace d'analyse d'éléments traces est unique et inégalée sur le marché de la XRF. Le concept Pro-Trace est basé sur des algorithmes avancés conçus pour relever les défis spécifiques liés à la détermination de faibles concentrations élémentaires. De plus, le logiciel intègre des savoirs d'experts couvrant les sujets « Que mesurer » et « Comment mesurer ».
Le Pro-Trace offre une grande précision pour la quantification de 40 éléments traces jusqu'à un niveau ppm à un seul chiffre ou inférieur. La solution Pro-Trace comprend une série d'échantillons de configuration de la calibration spécialement conçus et des échantillons vierges. Ces échantillons de configuration sont référencés par rapport à plus de 200 matériaux de référence certifiés et représentent d'importantes économies pour les laboratoires qui ne disposent pas d'une vaste bibliothèque interne d'étalons.
Les matériaux suivants peuvent être analysés :
Inclus :
En option
Conditions préalables
Contactez nos spécialistes
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse élémentaire précise des éléments majeurs et mineurs dans une large gamme de matériaux oxydés
Pour le contrôle des processus, l'exploration, l'exploitation et le contrôle de la qualité dans des secteurs tels les minerais, la géologie, la céramique, les briques, le ciment et le verre, une analyse élémentaire précise et régulière est essentielle. Cela permet d'optimiser les processus et de garantir la qualité et l'homogénéité du produit.
La spectroscopie par fluorescence des rayons X (XRF) est une méthode analytique établie de quantification de la composition élémentaire des matériaux oxydés. La XRF présente d'importants avantages tels qu'une préparation simple des échantillons, des résultats précis et reproductibles et une analyse hautement automatisée. Cela permet de réduire les délais de mesures à quelques minutes et d'éviter d'avoir à faire appel à des opérateurs hautement qualifiés.
Le programme d'expertise WROXI
Pour une analyse précise, des étalons certifiés sont indispensables. La solution WROXI comprend une série d'étalons issus de produits chimiques de haute pureté, pour des résultats très précis et traçables. L'ensemble de solutions WROXI est adapté à un large éventail de matériaux oxydés, notamment des : silicates, carbonates, phosphates, sols, roches, minerais de fer, minerais de manganèse, ciments, etc. La solution WROXI est basée sur les perles, mais peut facilement servir de méthode de référence selon laquelle des méthodes pour granulés compactés peuvent être validées.
Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Composés | % | Composés | % |
| Na2O | 0 - 58 | Mn3O4 | 0 - 80 |
| MgO | 0 - 78 | Fe2O3 | 0 - 81 |
| Al2O3 | 0 - 78 | NiO | 0 -12 |
| SiO2 | 0 - 80 | CuO | 0 - 8 |
| P2O5 | 0 - 40 | ZnO | 0 - 10 |
| SO3 | 0 - 59 | SrO | 0 - 20 |
| K2O | 0 - 40 | ZrO2 | 0 - 43 |
| CaO | 0 - 80 | BaO | 0 - 43 |
| TiO2 | 0 - 40 | HfO2 | 0 - 10 |
| V2O5 | 0 - 10 | PbO | 0 - 10 |
| Cr2O3 | 0 - 10 |
Si nécessaire, les plages d'éléments et de concentrations peuvent être étendues pour répondre à vos besoins spécifiques. En plus des étalons, la solution WROXI comprend une méthodologie complète, allant de la préparation des échantillons au flux de travail de l'assurance de la qualité, pouvant être utilisée en combinaison avec les systèmes WD XRF de Malvern Panalytical.
Inclus :
En option
Conditions préalables
Contactez nos spécialistes
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse élémentaire précise des ciments, du clinker, du cru, du calcaire, des argiles et du gypse
Pour le contrôle de processus d'une cimenterie, la composition élémentaire des matières premières, du cru, du clinker et du ciment doit être mesurée avec précision et de façon continue. Ces analyses ont des conséquences directes sur les paramètres du processus de production comme les vitesses d'alimentation, les températures du four, les durées de broyage, etc. L'optimisation de ces paramètres permet de réduire les coûts de production. En outre, une analyse précise garantit également la qualité et l'homogénéité du produit.
La spectroscopie par fluorescence des rayons X (XRF) est devenue une méthode analytique établie de quantification de la composition élémentaire des ciments et des matériaux contenant du ciment. La XRF présente d'importants avantages tels qu'une préparation simple des échantillons, des résultats précis et reproductibles et une analyse hautement automatisée. Elle permet de réduire les délais de mesures à quelques minutes et permet aux opérateurs d'usine d'effectuer les analyses de routine.
Le programme d'expertise CEMOXI
Pour une analyse précise, des étalons certifiés sont indispensables. Les étalons du programme CEMOXI, traçables et issus de produits chimiques de haute pureté, fournissent des concentrations très précises. L'ensemble d'étalons CEMOXI convient à une grande variété de matériaux utilisés dans la production de ciment. La solution CEMOXI est basée sur les perles, mais peut facilement servir de méthode de référence selon laquelle les méthodes pour granulés compactés peuvent être validées.
Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Composés | % |
| Na2O | 0 - 1,0 |
| MgO | 0 - 6,0 |
| Al2O3 | 0 - 10 |
| SiO2 | 0 - 24 |
| P2O5 | 0 - 0,5 |
| SO3 | 0 - 59 |
| K2O | 0 - 2,0 |
| CaO | (0-) 20 - 70 |
| TiO2 | 0 - 1,0 |
| Mn2O3 | 0 - 0,29 |
| Fe2O3 | 0 - 7,0 |
| ZnO | 0 - 0,25 |
| SrO2 | 0 - 0,7 |
Si nécessaire, les plages d'éléments et de concentrations peuvent être étendues pour répondre à vos besoins spécifiques. En plus des étalons, la solution CEMOXI comprend une méthodologie complète, allant de la préparation d'échantillons au flux de travail de l'assurance de la qualité, pouvant être utilisée en combinaison avec les systèmes XRF de Malvern Panalytical.
Inclus :
En option
Conditions préalables
Solution clé en main pour l'analyse élémentaire précise des aciers spéciaux, des alliages haute température et des superalliages
Les aciers spéciaux, les alliages haute température et les superalliages sont utilisés dans une large gamme de composants hautes performances pour leurs caractéristiques telles que la durabilité, la dureté, la stabilité de la température et la résistance à la corrosion. La production d'aciers aux caractéristiques élevées suppose des contrôles de procédé et des contrôles qualité très stricts. L'industrie des métaux connaît bien le challenge de l'analyse par XRF d'une grande variété d'éléments alliés à des gammes de concentrations très vastes. Plus particulièrement, les corrections de matrice nécessaires et le nombre important de matériaux de référence requis pour obtenir des résultats de haute qualité sont généralement des sources de préoccupations.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF du Ni, Fe et des alliages à base de Co
Le programme d'expertise NiFeCo offre une méthodologie complète allant de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité pour l'analyse élémentaire de métaux à base de NiFeCO utilisant la XRF et couvre l'acier inoxydable, l'acier rapide, l'acier à outils, l'acier doux, les aciers Nimonic, Inconel, l'acier à base élevée de Mn et un alliage à base de Ni.
Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Élément | Gamme de concentration (wt%) | Élément | Gamme de concentration (wt%) | |
| Al | 0,01 – 6 | Cu | 0,01 – 30 | |
| Si | 0,01 – 2,4 | Y | 0,01 – 0,3 | |
| P | 0,01 – 0,3 | Zr | 0,01 – 0,4 | |
| S | 0,01 – 0,1 | Nb | 0,01 – 6,3 | |
| Ti | 0,01 - 4 | Mo | 0,01 – 21 | |
| V | 0,01 – 3 | Hf | 0,01 – 1,3 | |
| Cr | 0,01 – 24 | Ta | 0,01 – 7,2 | |
| Mn | 0,01 – 15 | W | 0,01 – 15 | |
| Fe | 0,01 – 78 | Re | 0,01 – 5,4 | |
| Co | 0,01 – 63 | Pt | 0,01 – 0,3 | |
| Ni | 0,01 – 64 | |||
En plus des étalons, le programme comprend une méthodologie complète, de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité, pouvant être utilisée avec les systèmes XRF de Malvern Panalytical.
Inclus
En option
Conditions préalables
Contactez nos spécialistes
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
« Base cuivre » (base Cu) est un terme utilisé pour décrire différents alliages dont le principal composant est le cuivre. Pour que ces matériaux conviennent à différentes applications (par ex. : la fabrication de monnaie ou de cloches, une large gamme d'équipements mécaniques et de câbles électriques), le cuivre est normalement allié à d'autres éléments tels que le Sn, Zn, Ni, Al et le Pb. Durant le processus de production, une analyse élémentaire rapide est nécessaire pour minimiser les erreurs et optimiser le rendement.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF d'alliages Cu
Le programme d'expertise Base Cu offre une méthodologie complète allant de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité pour l'analyse élémentaire rapide des métaux à base de cuivre à l'aide de la XRF, et couvre les analyses du bronze, de l'aluminium-bronze, du bronze phosphoreux, du bronze au plomb, du laiton, d'alliages à base de laiton et du laiton au plomb.
Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Élément | Gamme de concentration (wt%) | Élément | Gamme de concentration (wt%) | |
| Mg | < LLD – 0,3 | Ni | 0,007 – 33 | |
| Al | < LLD – 13 | Cu | 54,4 – 96 | |
| Si | < LLD – 0,6 | Zn | 0,013 – 43 | |
| P | 0,001 – 1 | As | < LLD – 0,3 | |
| S | 0,0013 – 0,1 | Sn | 0,006 – 17 | |
| Cr | 0,0013 – 1 | Sb | 0,005 – 0,5 | |
| Mn | < LLD – 2,3 | Pb | 0,005 – 21 | |
| Fe | 0,003 – 5,6 | Bi | < LLD – 2 | |
| Co | 0,012 – 0,3 | |||
Remarque : si la concentration certifiée est inférieure à la valeur LLD, le terme < LLD est utilisé pour indiquer la limite inférieure de la plage de concentration
En plus des étalons, le programme comprend une méthodologie complète, de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité, pouvant être utilisée avec les systèmes XRF de Malvern Panalytical.
Inclus
En option
Conditions préalables
Contactez nos spécialistes
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Les aciers faiblement alliés sont largement utilisés dans la fabrication de tuyaux, la carrosserie automobile et aérospatiale, les lignes de chemin de fer et les plaques d'ingénierie de structures côtières et au large des côtes. Les aciers faiblement alliés hautement résistants sont utilisés pour leur résistance à la corrosion. Les aciers faiblement alliés contiennent généralement moins de 10 % d'éléments d'alliage (C, Mn, Cr, Ni, Mo, V et Si combinés). Une analyse élémentaire précise et rapide est une exigence importante dans la production d'acier.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF d'aciers faiblement alliés
Le programme d'expertise Aciers faiblement alliés offre une méthodologie complète allant de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité de l'analyse élémentaire utilisant la XRF et couvre les aciers faiblement alliés hautement résistants, les aciers hautement résistants à la chaleur (acier au chrome-molybdène), les aciers pour une utilisation à basse température (aciers au nickel), les aciers patinables et les aciers hautement résistants. Cette méthode a été élaborée à l'aide d'un étalon maître disposant de plus de 90 matériaux de référence certifiés.
Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Élément | Gamme de concentration (wt%) | Élément | Gamme de concentration (wt%) |
| C | < LLD - 1,29 | Cu | 0,0013 - 0,66 |
| Al | < LLD - 0,3 | As | 0,0005 - 0,14 |
| Si | < LLD - 1,46 | Zr | 0,0015 - 0,2 |
| P | 0,002 - 0,072 | Nb | 0,0004 - 0,3 |
| S | 0,0009 - 0,089 | Mo | 0,002 - 1 |
| Ti | 0,0005 - 0,31 | Sn | 0,001 - 0,24 |
| V | 0,0006 - 0,52 | Sb | 0,0005 - 0,072 |
| Cr | 0,0015 - 5,15 | Ta | 0,001 - 0,23 |
| Mn | 0,0057 - 2 | W | 0,012 - 0,3 |
| Co | 0,0012 - 0,3 | Pb | < LLD - 0,024 |
| Ni | 0,002 - 4,45 |
Remarque : si la concentration certifiée est inférieure à la valeur LLD, le terme < LLD est utilisé pour indiquer la limite inférieure de la plage de concentration
Ce programme d'expertise comprend une méthodologie complète, de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité, pouvant être utilisée avec les systèmes XRF de Malvern Panalytical.
Inclus
REMARQUE : les échantillons de transfert seront mis à disposition pour la calibration. Ces échantillons devront être renvoyés à Malvern Panalytical.
En option
Conditions préalables
Contactez nos spécialistes
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour une analyse précise des métaux d'usure dans les huiles lubrifiantes
L'apparence des métaux d'usure dans les huiles lubrifiantes est un indicateur important d'usure ou de la contamination des composants. Une analyse XRF précise d'éléments traces dans l'huile et le contrôle de leurs niveaux dans le temps permettent d'optimiser les programmes de maintenance préventive. Les données peuvent être utilisées pour une détection précoce de défaillances potentiellement coûteuses, et réduire ainsi les coûts de réparation et augmenter les marges de sécurité.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF des métaux d'usure dans les huiles lubrifiantes
Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes par le programme d'expertise Métaux d'usure :
| Éléments | ppm | Éléments | ppm |
| Ag | 0 - 500 | Mo | 0 - 500 |
| Al | 0 - 2000 | Na | 0 - 500 |
| Ba | 0 - 2000 | Ni | 0 - 500 |
| Ca | 0 - 5000 | P | 0 - 2000 |
| Cd | 0 - 500 | Pb | 0 - 500 |
| Cr | 0 - 500 | Sb | 0 - 500 |
| Cu | 0 - 400 | S | 0 - 500 |
| Fe | 0 - 500 | Sn | 0 - 500 |
| K | 0 - 500 | Ti | 0 - 500 |
| Mg | 0 - 3000 | V | 0 - 500 |
| Mn | 0 - 500 | Zn | 0 - 2000 |
En plus des étalons, le programme comprend une méthodologie complète, de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité, pouvant être utilisée avec les systèmes XRF de Malvern Panalytical.
Inclus :
En option
Conditions préalables
Contactez nos spécialistes
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse des additifs dans les huiles lubrifiantes
Presque toutes les huiles commercialisées contiennent des additifs chimiques visant à améliorer leurs performances pour une application particulière. Les méthodes d'essai des normes internationales ASTM D6443 et ASTM D4927 sont utilisées pour déterminer si les huiles, les additifs et les packs d'additifs sont conformes aux spécifications. Ces méthodes utilisent la spectroscopie par fluorescence des rayons X à dispersion de longueur d'onde (WD XRF) et des procédures de correction de matrice mathématiques. La XRF constitue une excellente méthode pour l'analyse de plusieurs éléments, car elle fournit des données de façon précise et économique et offre une acquisition rapide des données. Les calibrations individuelles peuvent être utilisées pendant des mois, ce qui évite une nouvelle calibration chronophage et coûteuse. Notamment pour les liquides, la préparation des échantillons est simple et l'analyse ne nécessite pas de personnel de laboratoire hautement qualifié.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF des additifs dans l'huile lubrifiante selon les normes ASTM D6443 et D4927
Ce programme d'expertise offre une méthodologie complète pour le respect des normes et couvre tous les aspects, de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité. Les clients peuvent demander un devis pour une ou deux normes à inclure dans le programme. Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| D4927 | D6443 | |||
| Éléments | ppm | Éléments | ppm | |
| Ba | 0 - 0,04 | Ca | 0 - 0,4 | |
| Mg | 0 - 0,08 | Mg | 0 - 0,2 | |
| P | 0 - 0,25 | P | 0 - 0,25 | |
| S | 0 - 2,5 | S | 0 - 1,0 | |
| Si | 0 - 0,18 | Cl | 0 - 0,2 | |
| Cl | 0 - 0,2 | Zn | 0 - 0,25 | |
| Ca | 0 - 0,5 | Cu | 0 - 0,4 | |
| Mo | 0 - 0,05 | |||
| Zn | 0 - 0,25 | |||
Inclus :
En option
Conditions préalables
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*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse précise du soufre dans les produits pétroliers
Le pétrole brut contient généralement entre 0,5 et 5 % de soufre. Les considérations environnementales exigent que les émissions des produits pétroliers dérivés de ces pétroles bruts présentent des niveaux de soufre limités. La teneur en soufre des produits intermédiaires et finaux (carburants, huiles, essences) doit être contrôlée avec précision, conformément aux méthodes d'essai spécifiées dans les normes ASTM 2622 et ISO 20884. Ces méthodes utilisent la spectroscopie par fluorescence des rayons X à dispersion de longueur d'onde (WD XRF) et des procédures de correction de matrice mathématiques.
La XRF constitue une excellente méthode pour déterminer la teneur en soufre dans les produits pétroliers, car elle fournit des données de façon précise et économique et offre une acquisition rapide des données. Les calibrations individuelles peuvent être utilisées pendant des mois, ce qui évite une nouvelle calibration chronophage et coûteuse. Notamment pour les liquides, la préparation des échantillons est simple et l'analyse ne nécessite pas de personnel de laboratoire hautement qualifié.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF du soufre dans les produits pétroliers, conformément aux normes ISO 20884 et ASTM 2622
Ce programme d'expertise offre une méthodologie complète pour le respect des normes et couvre tous les aspects, de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité. Les clients peuvent demander un devis pour une ou deux normes à inclure dans le programme. Le client peut choisir le kit Oil-Trace, qui corrige les variations d'oxygène du taux d'hydrocarbures des échantillons, ce qui permet une précision optimale et l'utilisation d'un seul étalon de calibration pour plusieurs matrices. Oil-Trace est fortement recommandé pour les carburants. Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
|
| |||||||||||||||||||||||
Inclus :
En option
Conditions préalables
Contactez nos spécialistes
*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse élémentaire précise des additifs et des charges dans les polymères
Des additifs et des charges sont régulièrement ajoutés au cours de la fabrication des matières plastiques pour améliorer ou supprimer certaines propriétés. Une analyse élémentaire précise assure un contrôle strict de ces produits chimiques coûteux lors de la production de polymères.
La spectroscopie par fluorescence des rayons X (XRF) est une méthode analytique établie permettant de quantifier les concentrations d'additifs et de charges. La XRF est une technique non destructive : elle offre donc d'importants avantages par rapport à d'autres méthodes. La préparation des échantillons est simple et n'exige aucune dissolution. Les résultats de mesure sont précis et reproductibles. Les nouvelles normalisations chronophages et coûteuses sont inutiles et les résultats restent cohérents sur de longues périodes, ce qui permet d'économiser du temps et de l'argent. L'analyse automatisée réduit les délais de mesures à quelques minutes et les méthodes efficaces de préparation des échantillons permettent un débit élevé. Grâce au logiciel convivial, les opérateurs d'usine peuvent effectuer les analyses de routine.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF des additifs et des charges dans les polymères et les plastiques
Ce programme d'expertise offre une méthodologie complète allant de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité de l'analyse élémentaire de polyoléfines (tous types de PP et PE, notamment iPP, PEHD, PEBD, mPE, ULMWPE, etc.). Il peut s'appliquer aux systèmes des gammes Zetium, Axios, MagiX ou Epsilon.
Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Éléments | ppm |
| F | 0 - 270 |
| Na | 0 - 190 |
| Mg | 0 - 560 |
| Al | 0 - 400 |
| Si | 0 - 800 |
| P | 0 - 90 |
| S | 0 - 100 |
| Ca | 0 - 200 |
| Ti | 0 - 110 |
| Zn | 0 - 200 |
Inclus
En option
Conditions préalables
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*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse précise des éléments lourds toxiques dans les polymères
La spectroscopie par fluorescence des rayons X (XRF) est une technique puissante pour le contrôle des processus et la conformité réglementaire dans l'industrie des plastiques et des polymères. Un contrôle fiable de la concentration des catalyseurs restants permet de contrôler avec précision le processus de polymérisation et garantit que la concentration maximale autorisée concernant plusieurs substances à usage restreint n'est pas dépassée.
La XRF offre d'importants avantages par rapport à d'autres techniques d'analyse élémentaire. La préparation des échantillons est simple et n'exige aucune dissolution. Les mesures sont non-destructives et les résultats précis et reproductibles. Les nouvelles normalisations chronophages et coûteuses sont inutiles et les données en résultant restent cohérentes sur de longues périodes, ce qui permet d'économiser du temps et de l'argent. L'analyse automatisée réduit les délais de mesures à quelques minutes et les méthodes efficaces de préparation des échantillons permettent un débit élevé. Grâce au logiciel convivial, les opérateurs d'usine peuvent effectuer les analyses de routine.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF des éléments toxiques dans les polymères et les plastiques
Ce programme d'expertise offre une méthodologie complète allant de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité de l'analyse élémentaire de polyoléfines (tous types de PP et PE, notamment iPP, PEHD, PEBD, mPE, ULMWPE, etc.). Il peut s'appliquer aux systèmes des gammes Zetium, Axios, MagiX ou Epsilon. Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Éléments | ppm |
| Cr | 0 - 22 |
| Ni | 0 - 11 |
| Cu | 0 - 25 |
| Zn | 0 - 5 |
| As | 0 - 6 |
| Br | 0 - 160 |
| Cd | 0 - 30 |
| Ba | 0 - 600 |
| Hg | 0 - 5 |
| Pb | 0 - 22 |
Inclus
En option
Conditions préalables
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*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse précise des substances à usage restreint RoHS (Cr, Br, Cd, Hg et Pb) dans les polymères
Les fabricants de matières plastiques et de polymères sont tenus de respecter les réglementations RoHS et les normes internationales ASTM F2617-08. Cette législation définit la concentration maximale autorisée concernant plusieurs substances à usage restreint. La spectroscopie par fluorescence des rayons X (XRF) est une technique puissante pour garantir la conformité réglementaire dans l'industrie des polymères.
La XRF offre d'importants avantages par rapport à d'autres techniques d'analyse élémentaire. La préparation des échantillons est simple et n'exige aucune dissolution. Les mesures sont non-destructives et les résultats précis et reproductibles. Les nouvelles normalisations chronophages et coûteuses sont inutiles et les données en résultant restent cohérentes sur de longues périodes, ce qui permet d'économiser du temps et de l'argent. L'analyse automatisée réduit les délais de mesures à quelques minutes et les méthodes efficaces de préparation des échantillons permettent un débit élevé. Grâce au logiciel convivial, les opérateurs d'usine peuvent effectuer les analyses de routine.
Programme d'expertise pour l'analyse XRF des éléments RoHS dans les polymères et les plastiques
Ce programme d'expertise offre une méthodologie complète allant de la préparation des échantillons à l'assurance de la qualité de l'analyse élémentaire de polyoléfines (tous types de PP et PE, notamment iPP, PEHD, PEBD, mPE, ULMWPE, etc.). Il peut s'appliquer aux systèmes des gammes Zetium, Axios, MagiX ou Epsilon. Les plages d'éléments et de concentrations suivantes sont couvertes :
| Éléments | ppm |
| As | 0 - 145 |
| Br | 0 - 980 |
| Cl | 0 - 1075 |
| Cd | 0 - 250 |
| S | 0 - 590 |
| Pb | 0 - 1030 |
| Cr | 0 - 970 |
| Sb | 0 - 345 |
| Hg | 0 - 480 |
| Sn | 0 - 180 |
| Zn | 0 - 980 |
Inclus
En option
Conditions préalables
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*Le CSP est déjà inclus dans les systèmes Zetium
Solution clé en main pour l'analyse minéralogique précise
Une analyse minéralogique des minerais, des métaux et du ciment est essentielle pour une production rentable, respectueuse de l'environnement et de qualité constante. La diffraction par rayons X est un outil puissant qui analyse directement la minéralogie du produit final et de ses intermédiaires. La diffraction par rayons X est facile à utiliser et entièrement automatisable et offre des résultats indépendants de l'utilisateur. De plus, c'est une technique rapide et précise aux résultats hautement reproductibles.
Programme d'expertise pour l'analyse minéralogique à l'aide de la XRD
Ce programme d'expertise offre une méthodologie complète d'analyse minéralogique de routine pour les clients des secteurs de l'exploitation minière, des métaux et du ciment. Ces méthodes sont adaptées aux matériaux spécifiques du client. Cette méthodologie peut s'appliquer aux systèmes Aeris, CubiX3, Empyrean et X'Pert3 Powder.
Inclus
Conditions préalables
