Revêtements métalliques

Solutions analytiques des revêtements métalliques

Lors de dépôt de couches de métaux purs ou d'alliages pour améliorer certaines fonctionnalités d'un produit, il est important de déterminer avec précision l'épaisseur du revêtement. Le contrôle qualité des revêtements métalliques nécessite une analyse élémentaire non destructrice aussi bien qu'une caractérisation détaillée des propriétés physiques. La fluorescence X (XRF), la diffraction des rayons X (XRD) et l'analyse de la taille des particules sont des techniques analytiques sans contact et non destructrices. Elles n'exigent que peu ou pas de préparation des échantillons, ce qui les rend idéales pour cette application. 

Les applications habituelles sont les suivantes :

  • Procédés de prétraitement de l'acier 
  • TiN pour l'usinage des matériaux à base de fer
  • CrC avec résistance à l'oxydation à haute température utilisé pour les moulages sous pression
  • Carbure de tungstène/carbone (WC/C) pour le revêtement et la protection de composants de précision à charge élevée, d'engrenages et entraînements, de composants de moteurs, de pompes hydrauliques et de compresseurs
  • Revêtements conducteurs tels que le plastique métallisé utilisé dans les emballages alimentaires 
Gamme Morphologi

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Imagerie automatisée pour la caractérisation avancée des particules

Empyrean

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Le diffractomètre intelligent

L'édition Metals de Zetium

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Le nouvel élément en matière de métaux

Gamme Epsilon

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Analyse élémentaire rapide et précise de et en ligne

Technologie
Analyse d'images
Diffraction des rayons X (XRD)
Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
Fluorescence X (XRF)