Lors de dépôt de couches de métaux purs ou d'alliages pour améliorer certaines fonctionnalités d'un produit, il est important de déterminer avec précision l'épaisseur du revêtement. Le contrôle qualité des revêtements métalliques nécessite une analyse élémentaire non destructrice aussi bien qu'une caractérisation détaillée des propriétés physiques. La fluorescence X (XRF), la diffraction des rayons X (XRD) et l'analyse de la taille des particules sont des techniques analytiques sans contact et non destructrices. Elles n'exigent que peu ou pas de préparation des échantillons, ce qui les rend idéales pour cette application.
Les applications habituelles sont les suivantes :
Gamme MorphologiImagerie automatisée pour la caractérisation avancée des particules |
EmpyreanLe diffractomètre intelligent |
L'édition Metals de ZetiumLe nouvel élément en matière de métaux |
Gamme EpsilonAnalyse élémentaire rapide et précise de et en ligne |
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Technologie | ||||
Analyse d'images | ||||
Diffraction des rayons X (XRD) | ||||
Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) | ||||
Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) | ||||
Fluorescence X (XRF) |