La principale application de la diffraction des poudres aux rayons X est l'identification de phases majeures et mineures, uniques ou multiples, d'un échantillon inconnu.
Une phase est un solide cristallin avec une configuration en 3 dimensions des atomes. Les positions et les intensités mesurées des pics de diffraction sont comme l'empreinte d'une phase cristalline spécifique.
L'identification est réalisée par comparaison du modèle mesuré avec les entrées des bases de données de référence, à l'aide d'un algorithme de recherche-correspondance.
C'est ce qu'on appelle également une analyse de phase qualitative.
L'identification de phase est l'application la plus importante de la diffraction de poudre aux rayons X (XRD ou XRPD).
La diffraction de poudre aux rayons X ne s'applique pas uniquement aux échantillons de poudre, mais aussi aux solides polycristallins, aux suspensions et aux couches minces.
Les échantillons de poudre inorganiques sont plus souvent mesurés dans la géométrie de réflexion classique de Bragg-Brentano. D'autre part, une géométrie de transmission est normalement privilégiée pour les matériaux organiques (p. ex. les produits pharmaceutiques et les polymères), les liquides cristallins et les suspensions. En cas de couches minces, la configuration en incidence rasante est la plus appropriée.
Les systèmes de diffraction des rayons X Empyrean de Malvern Panalytical conviennent parfaitement à l'identification de phase dans les poudres, les couches minces, les solides et les suspensions grâce aux plateformes des goniomètres verticaux. Ces instruments polyvalents sont principalement utilisés dans des environnements de recherche. L'analyse de polymorphe à haut débit sur plaque est également prise en charge.
Le diffractomètre de paillasse Aeris, avec son interface utilisateur intuitive, la qualité exceptionnelle de ses données et son débit d'échantillon élevé, est un outil excellent pour les analyses de phase de routine des échantillons solides et en poudre dans les environnements industriels et de recherche.
HighScore (Plus) est un puissant logiciel qui permet de rechercher les pics et d'identifier facilement les phases, même dans des mélanges en phase complexe. HighScore (Plus) permet la recherche simultanée dans plusieurs bases de données de référence et offre de nombreuses options d'automatisation et de création de rapports. L'analyse par cluster pour regrouper les échantillons présentant une composition de phase similaire est également prise en charge.
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Diffraction des rayons X (XRD) | ||
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