Introducción a la espectrscopia por dispersión de longitud de onda WDXRF y los espectrómetros WDXRF de Malvern Panalytical
La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica no destructiva que se utiliza para obtener información elemental de los diferentes tipos de materiales.
Esta se utiliza en diversas industrias y aplicaciones, como producción de cemento, producción de vidrio, minería, enriquecimiento de minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, petróleo y petroquímica, polímeros e industrias relacionadas, productos farmacéuticos, productos de cuidado de la salud y sector medioambiental.
Los sistemas de espectrometría generalmente se dividen en dos grupos principales: los sistemas de dispersión por longitud de onda (WDXRF) y los sistemas por dispersión de energías (EDXRF). La diferencia entre ambos radica en el sistema de detección.
El concepto básico de todos los espectrómetros es una fuente de radiación, una muestra y un sistema de detección. En los espectrómetros WDXRF, el tubo de rayos X, que actúa como fuente, irradia una muestra directamente, y la fluorescencia procedente de la muestra se mide con un detector de dispersión de energías.
La radiación característica procedente de cada elemento individual se puede identificar mediante el análisis de los cristales que separan los rayos X en función de la longitud de onda o, por el contrario, de las energías.
Este análisis se puede hacer mediante la medición de la intensidad de los rayos X en diferentes longitudes de onda, una tras otra (secuencial), o en posiciones fijas mediante la medición de la intensidad de los rayos X en diferentes longitudes de onda, todas al mismo tiempo (simultánea).
ZetiumExcelencia elemental |
Axios FASTAlto rendimiento de muestras |
2830 ZTSolución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores |
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